1. 非易失存储器晶圆级BIST测试平台。
2. 通过提高并行测试数量，缩小测试机外形体积等设计显著降低了测试成本（COT）。
3. 搭配具有12个测试单元的一体prober使用，节省大量的设备占用空间。
4. 成熟的自动控制系统实现自动化测试。
5. 高MTBF,低MTTR。
6. 具有HV 模块，可以驱动和测量HV Pin.
1. 非易失存储器晶圆级BIST测试平台。
2. 通过提高并行测试数量，缩小测试机外形体积等设计显著降低了测试成本（COT）。
3. 搭配具有12个测试单元的一体prober使用，节省大量的设备占用空间。
4. 成熟的自动控制系统实现自动化测试。
5. 高MTBF,低MTTR。
6. 具有HV 模块，可以驱动和测量HV Pin.
| 应用场景 | NAND/NOR Flash |
| Test Speed | 同测数高达1152 个DUTS |
| Image Capture Speed | 每个DUT分配独立的5个pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 HV pin + 1 Power Pin |
| 工作频率 | 20 MHz |
| HV pin电压范围 | -4 ~ 28 V |
| 电源范围 | 0 ~ 4 V 400MA 每个DUT |
